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GB7251耐電壓擊穿試驗(yàn)裝置 詳細(xì)描述 一、設(shè)備概述：本裝置適用于低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備的絕緣介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試。 二、符合標(biāo)準(zhǔn)：滿足GB7251.1-2013第9章試驗(yàn)要求。 三、功能介紹：工頻擊穿強(qiáng)度耐電壓試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，試驗(yàn)過程中可動(dòng)態(tài)繪制出試驗(yàn)曲線，試驗(yàn)的曲線可以多種顏色疊加對(duì)比，局部放大，曲線上任意一段可進(jìn)行區(qū)域放大分析?？蓪?duì)

低壓成套開關(guān)及控制設(shè)備溫升測(cè)試系統(tǒng) 詳細(xì)描述 一、設(shè)備概述：本溫升測(cè)試系統(tǒng)適用于低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備的溫升試驗(yàn)。應(yīng)提供完整的系統(tǒng)解決方案。具體配置見主要設(shè)備供貨表。 二、符合標(biāo)準(zhǔn)：滿足GB7251.1-2013第10.10章溫升驗(yàn)證、GB7251.1-2005第8.2.1章溫升驗(yàn)證要求； GB 7251.1 -2013 低壓成套開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備第1部分：總則；

斷路器過載及短路分?jǐn)嗄芰C合性能試驗(yàn)臺(tái) 一、設(shè)備用途： 本試驗(yàn)臺(tái)適用于主觸頭用來接入額定電壓不超過交流1000V或直流1500V電路中的斷路器，1.05倍額定電流及1.30倍額定電流的反時(shí)限特性，提升斷路器試驗(yàn)?zāi)芰?，能測(cè)試斷路器的過載能力及短路分?jǐn)嗄芰Φ取? 二、符合標(biāo)準(zhǔn)：滿足GB14048.2--2008，IEC60947-2:2006（低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 第2部

熔斷器動(dòng)作特性試驗(yàn)裝置 詳細(xì)描述 一、設(shè)備概述： 本試驗(yàn)臺(tái)滿足GB13539.1-2008低壓熔斷器第1部分第8.4的標(biāo)準(zhǔn)要求，檢測(cè)熔斷器的動(dòng)作特性，包括約定不熔斷電流與約定熔斷電流驗(yàn)證、“g”熔斷器的額定電流驗(yàn)證、時(shí)間-電流特性等等；為各質(zhì)檢所以及熔斷器廠家提供一套全面方便的檢測(cè)方案。 二、系統(tǒng)組成： 本試驗(yàn)機(jī)由2臺(tái)大功率恒流源、PLC可編程控制器、電腦、電流變送器、電流傳

熔斷器試驗(yàn)預(yù)熱穩(wěn)流與自動(dòng)轉(zhuǎn)換裝置測(cè)試臺(tái) 詳細(xì)描述 一、設(shè)備概述：輸出低壓大電流（10k）下預(yù)熱熔斷器，能夠確定熔斷體在產(chǎn)生電弧之前切換到的試驗(yàn)電路中去，并且轉(zhuǎn)換時(shí)間（無電流的時(shí)間間隔）不得超過0.2s。 二、滿足標(biāo)準(zhǔn)：符合GB13539.1-2008 第8.5分?jǐn)嗄芰︱?yàn)證標(biāo)準(zhǔn)要求，檢測(cè)熔斷器在額定電壓下，熔斷

高壓直流開關(guān)電器電壽命試驗(yàn)裝置 產(chǎn)品詳細(xì)描述 1.系統(tǒng)概述 本系統(tǒng)GOSUN科技聯(lián)合國家中低壓輸配電檢驗(yàn)中心依據(jù)相關(guān)GB/IEC標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造，用于進(jìn)行直流1000V，800A及以下開關(guān)電器的電壽命試驗(yàn)，也可用于相應(yīng)開關(guān)電器的機(jī)械壽命試驗(yàn)。系統(tǒng)嚴(yán)格滿足標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)直流開關(guān)電器電壽命試驗(yàn)的試驗(yàn)電壓、電流、L/R、試驗(yàn)頻率、接通時(shí)間等參數(shù)要求，并可根據(jù)用戶具體需要，提供標(biāo)

交流接觸器電壽命試驗(yàn)裝置 詳細(xì)描述 一、系統(tǒng)概述：接觸器電壽命試驗(yàn)設(shè)備是依據(jù)GB8871-2001（交流接觸器節(jié)電器）、GB14048.6-2008《低壓電器開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備接觸器和電動(dòng)機(jī)啟動(dòng)器第二部分交流半導(dǎo)體電動(dòng)機(jī)控制器和起動(dòng)器（含軟啟動(dòng)器）》和JB/T 10522-2005《小容量交流接觸器可靠性試驗(yàn)辦法》等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)接觸器電壽命試驗(yàn)的相關(guān)要求進(jìn)行設(shè)計(jì)的。產(chǎn)品采用先進(jìn)、可

低壓斷路器電壽命試驗(yàn)裝置 詳細(xì)描述 一、設(shè)備概述： 斷路器電壽命試驗(yàn)設(shè)備是依據(jù)GB/T14048.1-2012 《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 總則》、GB/T14048.2-2008 《低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 低壓斷路器》等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。產(chǎn)品采用先進(jìn)、可靠的技術(shù)及設(shè)備，系統(tǒng)完善，功能完整，能夠進(jìn)行一整套的低壓小型斷路器電壽命試驗(yàn)。 二、設(shè)備特點(diǎn)： 1）控制系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)各試驗(yàn)柜